Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Technical Foundations for Measuring Ego Development
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a maj...
Celý popis
Libristo kód: 03026751
?
198 b
198 b
1 982
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 15-20 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a major measure of ego development, from an intuitive rating scale to an empirically derived reliable and valid personality test. The authors recount the complet
Informace o knize
Plný název
Technical Foundations for Measuring Ego Development
Autor
Le-Xuan Hy
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2014
Počet stran
144
EAN
9781138012356
ISBN
9781138012356
Libristo kód
03026751
Nakladatelství
Taylor & Francis Ltd
Váha
220
Rozměry
230 x 152 x 15
