Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the cha...
Celý popis
Libristo kód: 01389606
?
680 b
680 b
6 799
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-12 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Pevná
5 911
Kč
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the characterization techniques used by the modern semiconductor industry to measure diverse semiconductor materials and devices. It covers the full range of electrical and optical characterization methods while thoroughly treating the more specialized chemical and physical techniques. In the third edition, Professor Schroder has rewritten parts of each chapter and added two new chapters (Charge Based Measurements and Failure Analysis and Reliability), redrawn and updated most figures, and included new problems and approximately 100 new references.
Informace o knize
Plný název
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Autor
Dieter K. Schroder
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
2006
Počet stran
800
EAN
9780471739067
ISBN
0471739065
Libristo kód
01389606
Nakladatelství
John Wiley & Sons Inc
Váha
1324
Rozměry
243 x 238 x 51
