Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spe...
Celý popis
Libristo kód: 06624437
?
304 b
304 b
3 037
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provide
Informace o knize
Plný název
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2011
Počet stran
300
EAN
9783642618734
ISBN
9783642618734
Libristo kód
06624437
Nakladatelství
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Váha
466
Rozměry
152 x 229 x 18
