Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 GLS 54 Kurýr GLS 74 Zásilkovna 49 PPL 99

Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires Stephan Pröller
Libristo kód: 01668601
Nakladatelství Grin Publishing, října 2011
Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language:... Celý popis
? points 128 b
1 284 včetně DPH
Skladem u dodavatele Odesíláme za 15-20 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


Schau her - ich brauche keine Windel mehr Julia Volmert / Leporelo
common.buy 212
Risk factors of dehydration among elderly in Egypt Mustafa Shaban / Brožovaná
common.buy 1 307
Ethique de la Recherche Et Des Essais Cliniques Boucif Debab-Z / Brožovaná
common.buy 1 028
Coleopterorum catalo gus 55 S. Schenkling / Brožovaná
common.buy 725
Organized Uncertainty Michael Power / Brožovaná
common.buy 1 230
Concepts in Law and Economics Jim Leitzel / Pevná
common.buy 1 547

Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language: English, abstract: In this thesis the InAs(111)B surface and III-V semiconductor nanowires are investigated using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. The morphology of InAs nanowires grown without gold particle is studied. Radial nanowire heterostructure such as InP core with InAs shell are analyzed and the wurtzite {10-10} top facet is identified. Furthermore nanowire heterostructures with an InP core and InAs shell with induced stacking faults possibly giving rise to quantum dots, which could be used as quantum dot lasers or for quantum information processing, are investigated. A model is obtained based on morphology analysis and as top facet the wurtzite {10-10} and{11-20} are found. Furthermore stacking faults on top of a nanowire are seen.The analysis of the InAs(111)B surface shows the hexagonal pattern. Defects are determined to occur due to missing In atoms in the first layer. Spectroscopy next to those defects indicated no influence on the local electronic structure.

Informace o knize

Plný název Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Brožovaná
Datum vydání 2011
Počet stran 64
EAN 9783656010494
ISBN 3656010498
Libristo kód 01668601
Nakladatelství Grin Publishing
Váha 95
Rozměry 148 x 210 x 4
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet