Nehodí se? Vůbec nevadí! U nás můžete do 30 dní vrátit
S dárkovým poukazem nešlápnete vedle. Obdarovaný si za dárkový poukaz může vybrat cokoliv z naší nabídky.
30 dní na vrácení zboží
This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.