Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Noncontact Atomic Force Microscopy
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...
Celý popis
Libristo kód: 06617965
?
603 b
603 b
6 032
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Brožovaná
579
Kč
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
Informace o knize
Plný název
Noncontact Atomic Force Microscopy
Autor
E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2012
Počet stran
440
EAN
9783642627729
ISBN
9783642627729
Libristo kód
06617965
Nakladatelství
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Váha
692
Rozměry
155 x 235 x 25
