Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Nanometer Technology Designs
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c...
Celý popis
Libristo kód: 01423022
?
304 b
304 b
3 037
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Brožovaná
1 676
Kč
/
Brožovaná
1 446
Kč
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.
Informace o knize
Plný název
Nanometer Technology Designs
Autor
Nisar Ahmed
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2011
Počet stran
281
EAN
9781441945594
ISBN
1441945598
Libristo kód
01423022
Nakladatelství
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
462
Rozměry
155 x 235 x 15
