Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made u...
Celý popis
Libristo kód: 01427170
?
304 b
304 b
3 037
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Brožovaná
881
Kč
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing
Informace o knize
Plný název
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Autor
Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter G. Binev
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
2012
Počet stran
182
EAN
9781461421900
ISBN
146142190X
Libristo kód
01427170
Nakladatelství
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
459
Rozměry
155 x 235 x 14
