Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to a...
Libristo kód: 12446872
?
281 b
281 b
2 813
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 15-20 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.
Informace o knize
Plný název
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Autor
David C. Cox
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2015
Počet stran
104
EAN
9781681740201
ISBN
1681740206
Libristo kód
12446872
Nakladatelství
Morgan & Claypool Publishers
Váha
178
Rozměry
253 x 178 x 8
