Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactl...
Celý popis
Libristo kód: 18184965
?
273 b
273 b
2 726
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 12-14 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Pevná
1 026
Kč
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Informace o knize
Plný název
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Autor
Selahattin Sayil
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
2017
Počet stran
93
EAN
9783319696720
ISBN
3319696726
Libristo kód
18184965
Nakladatelství
Springer International Publishing AG
Váha
339
Rozměry
155 x 235 x 11
