phone 571 999 090
LIBRISTO 0
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč Balík do ruky 74 Kč Balíkovna 49 Kč GLS 54 Kč Kurýr GLS 74 Kč Zásilkovna 49 Kč PPL 99 Kč
phone Kontakt phoneJak nakupovat

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Pevná
Kniha Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 Samuel H. Cohen
Libristo kód: 01379186
Nakladatelství Springer Science+Business Media, prosince 1999
This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposi... Celý popis
? points 467 b
4 671 Kč včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 13-16 dnů

30 dní na vrácení zboží

Mohlo by vás také zajímat

Benátske masky Diána Erdei / Brožovaná
common.buy 29 Kč
Když nefunguje zákon přitažlivosti Sonia M. Miller / Brožovaná
common.buy 266 Kč
Pocta moravskému teplokrevníkovi Dalibor Gregor; Stanislav Hošák / Pevná
common.buy 273 Kč
Die Sicherungsabtretung im deutschen und amerikanischen Recht Thomas Paul / Brožovaná
common.buy 1 328 Kč
Lectures on Political Economy (Routledge Revivals) Knut Wicksell / Brožovaná
common.buy 3 117 Kč
Anwendung von Methoden der Gewerbeförderung in Entwicklungsländern. Gustav Fremerey / Brožovaná
common.buy 469 Kč
Připravujeme
Monitoring Web-Based Applications and Infrastructure James Wade / Brožovaná
common.buy 1 475 Kč
Handbuch IP-/IT-Mediation Michael Groß / Pevná
common.buy 3 192 Kč
Characterizing Pedagogical Flow W.H. Schmidt / Pevná
common.buy 3 037 Kč
Logic and Limits of Political Reform in China Joseph Fewsmith / Pevná
common.buy 2 928 Kč
Das dreizehnte Kapitel Martin Walser / Brožovaná
common.buy 324 Kč
Nurture Through Nature Claire Warden / Brožovaná
common.buy 881 Kč
Konstruktion von Input-Output-Tabellen und -Modellen mit Hilfe elektronischer Datenverarbeitung. Gerhard Gehrig / Brožovaná
common.buy 938 Kč

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.

Informace o knize

Plný název Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Autor Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Pevná
Datum vydání 1999
Počet stran 210
EAN 9780306462979
ISBN 0306462974
Libristo kód 01379186
Nakladatelství Springer Science+Business Media
Váha 635
Rozměry 178 x 254 x 20

Kategorie

Technologie, strojírenství, zemědělství > Strojírenství a materiály > Materiologie > Testování materiálů
Matematika a věda > Věda: obecná témata > Vědecké vybavení, experimenty a postupy
Matematika a věda > Fyzika > Nukleární fyzika
Matematika a věda > Chemie > Analytická chemie
Matematika a věda > Biologie, vědy o živé přírodě
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné
Zapomenuté heslo

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet