Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
Libristo kód: 02254276
?
467 b
467 b
4 671
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
Informace o knize
Plný název
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2013
Počet stran
250
EAN
9781475793277
ISBN
1475793278
Libristo kód
02254276
Nakladatelství
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
507
Rozměry
178 x 254 x 15
