Nehodí se? Vůbec nevadí! U nás můžete do 30 dní vrátit
S dárkovým poukazem nešlápnete vedle. Obdarovaný si za dárkový poukaz může vybrat cokoliv z naší nabídky.
30 dní na vrácení zboží
This volume examines the physical and technical foundation for progress in applied scanning probe techniques. It first introduces scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, and then details various industrial applications.