Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 74 Kč
Zásilkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Advances in Scanning Probe Microscopy
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic...
Celý popis
Libristo kód: 08908922
?
304 b
304 b
3 037
Kč
včetně DPH
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů
30 dní na vrácení zboží
Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors, and more. This book is of interest to those involved in using scanning probe microscopy.
Informace o knize
Plný název
Advances in Scanning Probe Microscopy
Autor
T. Sakurai, Y. Watanabe
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
2000
Počet stran
343
EAN
9783540667186
ISBN
9783540667186
Libristo kód
08908922
Nakladatelství
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Váha
705
Rozměry
155 x 235 x 24
Kategorie
Matematika a věda
>
Fyzika
>
Látky/látkové skupenství
>
Fyzika kondenzovaných látek (kapalného a pevného skupenství)
Matematika a věda
>
Chemie
>
Analytická chemie
>
Spektrální analýza, spektrochemie, hmotnostní spektrometrie
Technologie, strojírenství, zemědělství
>
Elektronické a komunikační inženýrství
>
Elektrotechnické inženýrství
>
Elektronické přístroje a materiály
